技术编号：11384776
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种用于分析样品及用于测定其特性的分析测定装置系统。特别地，涉及一种具有在问题实际发生之前使用装置检测问题的功能的分析测定装置系统。背景技术在一些情况下，例如，当分析测定的结果用作诉讼依据时，为了保证分析测定结果的正确性，定期地或在具体测定前或后，进行用于确定整个分析测定装置是否具备规定特性的检查(验证)。在验证中要被检查的点是在装置中设置的规定的标准测定条件下由分析测定装置进行的对标准样品的分析或测定的结果是否满足规定的基准。构成装置的一些特定的部件是否满足规定的基准同样被检查。这种...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。