技术编号:11404631
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。表面构造测量装置和方法相关申请引用本申请根据35U.S.C.§119的规定要求于2016年2月25日提交的日本专利申请2016-034437的优先权,该专利申请的公开内容通过完整引用结合在此。技术领域本发明涉及一种使用非接触型测量传感器测量可测物体的内壁的表面构造的表面构造测量装置和方法。背景技术通常使用表面构造测量装置测量可测物体的表面构造。例如,日本公开专利2006-064512中公开的一种表面构造测量装置检测可测物体表面上的凹凸的位置变化,以测量可测物体的内径和外径。近年来,一直有对可测物...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。