技术编号:11404650
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于光学元件曲率半径测量领域,尤其涉及一种精确测量超大曲率半径的方法及装置。背景技术大口径光学元件系统是大型高功率激光系统,如国内ICF激光驱动器,美国国家点火装置(NIF)及法国兆焦耳激光工程(Mega-JouleProject)中必须使用的上千件各类光学元件。仅400×500以上的各类口径光学元件就有8000件,其中用于空间滤波和聚焦的长焦距透镜系统就有1000件左右,因此对于这些大口径长焦距光学系统必须进行有效的参数检测。在美国LIGO(laserinterferometerGrav...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。