技术编号:11404877
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及对微小量的测量技术,具体地,涉及一种基于联合弱测量技术的时间延迟估计方法。背景技术在精密测量领域,弱测量技术主要分为两类:弱值放大弱测量和联合弱测量。其中,弱值放大弱测量技术提出的比较早,并且这种技术目前已经得到了广泛的应用。但是不可避免的,这种技术也存在着一些缺陷,例如:1、弱值放大弱测量利用弱耦合和后选择技术,将本来很微小的参量适当的放大到一个可观测量的位置,从而间接的对微小量进行测量,这种“放大”是以牺牲后选择光子数而得到的,也就是说,当后选择角度与前选择角度越接近垂直时,放大倍...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。