技术编号:11405730
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及微纳系统领域和磁探测领域,尤其是一种可以直接测量铁磁性分子团簇的磁矩、甚至可以对单个微尺度铁磁性颗粒、被大量非磁性样品包裹的磁性颗粒以及其他不规则结构等进行磁矩测量的一种使用磁强计测量磁性分子团簇磁矩的方法。背景技术通常情况下,宏观尺度的磁强计用于估计块状或粉末状材料的磁性,测得的块状材料的磁性,结合上测得的材料颗粒的体积,用于估计材料颗粒的磁矩,但是这种方法容易产生错误,首先,块状材料中单个颗粒的磁化并非与整体的磁化一致,其次,微尺度颗粒的体积不容易精确估算出来,特别是其有不规则几何...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。