技术编号:11430966
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及红外热成像技术领域中的非均匀性参数标定领域,特别涉及一种对非制冷红外热成像仪进行非均匀性校正时校正参数的标定方法。背景技术非制冷红外热成像仪包括红外焦平面探测器,红外焦平面探测器上排列有感光元件阵列,从无限远处发射的红外线经过光学系统成像在红外焦平面探测器的这些感光元件(也称像元)上,红外焦平面探测器将接受到的光信号转换为电信号,并进行积分放大、采样保持,通过输出缓冲和多路传输系统,最终送达非制冷红外热成像仪的监视系统形成图像。由于红外焦平面探测器各像元间的输出响应不一致以及光学镜头、...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。