技术编号:11431219
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种微痕量荧光探测仪有效值补偿方法及系统。背景技术微痕量荧光探测仪相比传统的爆炸物检测仪器,有灵敏度高、响应速度快的特点,在地铁、机场等重要安检场所有广泛的应用前景。此类仪器的核心是在玻璃基板上涂覆有机薄膜材料,这种材料对爆炸物分子有荧光淬灭的属性。当有爆炸物分子接触薄膜材料时,会使荧光量变小,仪器通过检测荧光强度的变化来判定是否有爆炸物分子存在。不可避免的是,同大多数有机荧光材料一样,这类有机薄膜材料由于光漂白、膜片污染等因素,随着使用膜片的荧光强度会慢慢变弱,膜片都有一定的寿命限制...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。