技术编号:11431295
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及无损检测技术领域,特别涉及一种缺陷漏磁信号的单元伸缩构建方法。背景技术漏磁检测是最常用的无损检测技术之一,通过对检测到的漏磁信号进行分析处理,得到给定缺陷的尺寸信息。在对缺陷尺寸和轮廓进行反演过程中,最常用的方法之一是构建可以根据已知缺陷参数求解漏磁信号的正向模型,通过对正向模型数据的缺陷参数进行优化,逼近目标漏磁信号,从而实现缺陷轮廓的反演。其中寻找准确而快速的缺陷漏磁信号求解方法是整个缺陷反演过程的重点与难点。现有的相关技术中,缺陷漏磁信号的求解方法主要有磁偶极子法、神经网络法和有...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。