技术编号:11431853
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及太阳能电池片测试领域,特别涉及一种测试机环境温度控制装置及控制方法。背景技术现有技术中,测试机在测试的过程中由于环境温度的波动严测试机暗箱内部设备在正常运行的过程中电机会产生大量的热量导致机台温度偏高,从而致使测试机暗箱的环境温度出现波动导致测试效率出现异常。若超过规定范围便会出现效率混乱偏低等异常状况发生。一般采用对车间降温从而达到对测试环境降温,这样温度难以控制,耗能高。发明内容针对以上现有技术存在的缺陷,本发明的主要目的在于克服现有技术的不足之处,公开了一种测试机环境温度控制装置...
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