技术编号：11436519
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种翻转序列解压结构及所述翻转序列解压结构的解压方法，尤其涉及一种一次翻转选择网络、具有所述一次翻转选择网络的一次翻转的翻转序列解压结构、所述翻转序列解压结构的解压方法。背景技术随着集成电路集成度的增加，日益增加的测试数据量已经成为影响集成电路测试的关键难题之一。根据2010年ITRS报告显示，测试一个芯片，在2009年，对测试模式数的要求仅仅需要85个，其压缩比仅仅需要80；而到2019年，对测试模式数的要求则需要达到20370个，对压缩比的要求则需要达到12000。仅仅十年，模式数...
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