技术编号：11448844
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及二维(2D)或三维(3D)断层成像中质量控制的一般领域。背景技术较佳的但非排它性的应用在于对由复合材料制成并具体地用在航空领域中的零件的断层图像进行质量控制。断层摄影术是通常用在零件的无损质量控制的领域中的技术，以获得零件的内部缺陷的2D或3D重建。通过使用成像设备，该技术可观察并且精确地量化零件内部缺陷的特征(三维位置、尺寸、形状因子等等)。此外，已知使用图像质量指示器(IQI)来用于评估使用成像设备所获取的断层图像的质量。通常，此类IQI是仿体(也可称为校准部分)，该仿体包括用作缺...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。