技术编号:11515098
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种光模块高低温测试装置。背景技术目前用于长距离传输的高速光收发模块的生产中需要在高低温下对光模块的参数做校准,以保证波长和光功率的稳定。目前,通常采用温箱或者带有玻璃罩接口的射流箱作为高低温测试的控温源,但是前者效率低,升温速度慢,容易出错,后者的价格昂贵,玻璃罩尺寸会限制光模块测试工装板的设计尺寸,特别是高速光模块的高速线有走线要求,玻璃罩的尺寸限制会影响走线。而且这两者在连接待测模块的温度探头方面都很不方便。如果采用人工粘贴或者放置的方式会导致探头位置的变化引入更多的测量数据误差...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。