技术编号:11521453
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。似然值指派针对每一读取重试在不同读取电压处改变正负号的读取重试操作相关申请案的交叉参考本申请案涉及2013年12月20日申请的标题为“用于非易失性存储器的读取重试(ReadRetryForNon-VolatileMemories)”的第2015/0149840号美国公开专利申请案以及2013年12月20日申请的标题为“存储器的读取通道中的多次读取重试(MultipleReadretriesinaReadChannelofaMemory)”的第2015/0162057号美国公开专利申请案,以上每一...
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