技术编号:11523734
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及测量技术的技术领域。背景技术为了确定容器中的填充材料或散装材料的物位,可使用拓扑检测物位测量装置。这些测量装置使用电子信号来扫描填充材料和/或散装材料的表面,并进一步利用从该扫描推导出的填充材料和/或散装材料的三维表面拓扑的认知来确定填充材料的体积(假定填充材料下面的区域是已知的)和/或确定从体积推导出的质量或其它变量(在已知密度的情况下)。为了执行扫描,使电磁波波束掠过填充材料或散装材料,并观察和评估不同角度的反射特性。电磁波,特别是雷达信号的三维(3D)物位测量或拓扑测量的使用可开...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。