技术编号：11531347
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。分析及利用景观相关申请案的交叉参考本申请案主张2014年11月25日申请的第62/083,891号美国临时专利申请案及2015年1月6日申请的第62/100,384号美国临时专利申请案的权益，所述临时专利申请案以全文引用方式并入本文中。技术领域本发明涉及计量领域，且更特定来说，涉及减少或消除叠加光学计量中的不准确度。背景技术光学计量技术通常要求造成计量信号的不对称的工艺变化远小于某一阈值，使得其部分不对称信号远小于由叠加造成的信号不对称。然而实际上，此类工艺变化可相当大(尤其在芯片开发的研究及开...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。