技术编号：11560455
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及失效分析无损检测领域，特别是指一种用于复杂器件CT扫描成像的装置。背景技术随着当今电子工业技术的飞速进步，元器件产品无论从设计结构、材料选用、制造工艺、封装工艺方面都进行着日新月异的发展，并且失效方式也错综复杂，这对失效点的位置确定带来了很大的困难。对于复杂失效件这种唯一性的样件，在未确定失效位置的情况下，不得轻易进行破坏性分析，这时就需要用到非破坏性的内部检查方式来确定失效位置，X射线是最好的检测手段。但是在目前X射线的检测领域，对于复杂结构元器件，其内部结构往往具有多层或者阵列...
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