技术编号：11560457
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型属于透照设备技术领域，具体涉及一种适用于大厚度比复杂构件的X射线透照设备。背景技术X射线成像检测系统在对具有大厚度的复杂结构件进行X射线透照成像时，传统的固定电压成像模式易出现过曝光和欠曝光现象，导致构件结构信息缺失严重。另外，变电压X射线成像技术，通过X射线检测系统的自适应控制、有效信息的提取、信息融合等过程，但是，由于X射线的多能性，其融合权值不准确，需要人工进行调整，实施复杂，对材料和系统物理条件的依赖性严重，这些实验室的设备限制了在现实工程上的应用。X射线数字成像已成为航空、航...
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