技术编号:11578519
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明主要涉及轨道交通技术领域,特指一种轨道交通电子单板加速寿命试验方法。背景技术轨道交通电子单板加速寿命试验是在失效机理不变的基础上,通过寻找产品寿命与应力之间的关系,即加速模型,利用产品在高加速应力下的寿命特征去外推或评估正常应力水平下的寿命特征的试验技术和方法。轨道交通电子单板加速寿命试验设计依据该电子单板的可靠性强化分析结果。确定振动、温度、湿度以及综合的工作极限范围,在此限定设计应力剖面组合,对电子单板进行加速寿命试验,建立电子单板的多应力加速寿命或退化寿命试验模型,分析电子单板在正常...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。