技术编号:11578541
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及集成电路测试领域,尤其是一种集成电路随动对位测压装置及随动对位方法。背景技术集成电路为保证具有足够的强度和刚度需要进行压力测试;传统的集成电路压力测试存在测压装置与集成电路座对位困难测试效率较低,且因测试时集成电路受压不均衡降低测试精度的不足;因此,设计一种测压装置与集成电路座对位方便测试效率较高,且测试时集成电路受压均衡提高测试精度的集成电路测压装置的随动测压装置及随动对位方法,成为亟待解决的问题。发明内容本发明的目的是为了克服目前的集成电路压力测试存在测压装置与集成电路座对位困难测...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。