技术编号：11583590
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及高光谱图像的目标检测。背景技术高光谱传感器通过上百个光谱通道获取地物的反射辐射信息，其波段范围覆盖了从可见光到近红外乃至长波红外区域，高光谱图像同时包含了地物的空间信息、反射或辐射信息以及光谱信息，其特性通常被称为“图谱合一”。而且，高光谱图像数据提供了近乎连续的光谱采样信息，可以记录地物在光谱上很小的反射差异。这个特性被称作地物的诊断特性，可以作为对地物进行分类和检测的依据。研究高光谱图像目标检测新技术，具有重要的理论意义和应用价值。在军事方面，可以揭露敌方目标的伪装、隐藏和欺骗。在...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
请注意，此类技术没有源代码，用于学习研究技术思路。