技术编号:11586461
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及显示技术领域,尤其涉及一种产线内晶粒大小监控设备及晶粒大小监控方法。背景技术平面显示器件具有机身薄、省电、无辐射等众多优点,得到了广泛的应用。现有的平面显示器件主要包括液晶显示器件(LiquidCrystalDisplay,LCD)及有机发光二极管显示器件(OrganicLightEmittingDisplay,OLED)。在平面显示器件中,薄膜晶体管(ThinFilmTransistor,TFT)一般是用作开关元件来控制像素的作业,或是用作驱动元件来驱动像素。薄膜晶体管依其硅薄膜性质...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。