技术编号:11590855
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种双窗口X荧光分析仪,其属于测控技术领域。背景技术在使用X光管作为激发光源对样品进行多元素同时定量定性分析时,目前国内和国际均用单靶单窗口输出作为光源,测量不同元素并达到一定的分析灵敏度需要不同的X光管进行分析,这样将增加仪器的复杂性和投资成本。目前国内外通常采用W靶侧窗发出的韧致辐射激发Mo、Tc、Rh、Pd、Ag、Cd、In、Sn、Sb、Te,其不足之处在于其辐射强度远小于端窗强度,由于韧致辐射强度角分布的因素,因此其分析灵敏度低。发明内容本实用新型针对上述不足,提供一种双窗...
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