技术编号：11592405
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。检测非易失性存储器设备中的擦除失败字线的方法相关申请的交叉引用于2016年1月13日提交的题为“检测非易失性存储器设备中的擦除失败字线的方法”的韩国专利申请No.10-2016-0004397整体通过引用并入本文中。技术领域本文中描述的一个或多个实施例涉及一种检测非易失性存储器设备中的擦除失败字线的方法。背景技术为了提高集成度，已经将半导体存储器设备开发为具有三维结构。当三维存储器设备中的编程/擦除操作的数目增加时，会在存储器单元中捕获到电子或者特定的字线会快速劣化。结果，即使在擦除操作期间，存...
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