技术编号:11617851
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于光谱测量技术领域,具体涉及一种基于散射原理的光谱测量系统及方法。背景技术光谱测量在天文观测、化学及材料分析、生物医学以及光源特性检测等领域应用广泛。传统的光谱测量系统通常采用光栅或棱镜来实现光谱到空间的一对一映射,通过将不同波长的信号光投影到不同的空间位置并采用狭缝控制输出光来实现光谱测量,但光栅、棱镜等分光元件的尺寸极大的限制了传统光谱测量系统的光谱分辨率,同时该类系统需要进行扫描。相对于狭缝类光谱测量系统,干涉光谱测量系统具有较高的光谱分辨率,但其需要不断驱动动镜来实现光谱测量。随...
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