技术编号：11627102
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。光学测量探针校准本发明涉及根据权利要求1的前序部分的用于测量探针的校准设备，装备有它的坐标测量系统，以及根据进一步的权利要求6和9的用于坐标测量系统的测量方法。根据权利要求1的前序部分的用于触觉测量探针的校准设备，以及测量探针本身现在是现有技术。在机床中，测量探针的使用例如服务于准确地确定或测量夹紧在工具台上的工件的位置以及可选地还有取向。这确保例如CNC机器的机床控制器一方面根据规范准确地处理（例如铣削）夹紧工件，并且另一方面防止工具（例如铣削头）无意间驱动到工件中并且由此损坏机床。用于位置确...
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