技术编号：11627109
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及支架技术领域，具体而言，涉及一种可调节测试支架及测量系统。背景技术目前，在对待测物体进行位移测试时，需要将测试装置安装在测试支架进行测量。然而测试的空间环境多变，而现有的测试支架调节不便，不能适应多变的测试环境，此外结构的稳定性差，不能确保测量过程中的可靠性。发明内容为了克服现有技术中的上述不足，本发明的目的在于提供一种可调节测试支架及测量系统，能够进行高度和宽度的调节，以适应多变的测试环境，并能够达到很好的稳定性。为了实现上述目的，本发明较佳实施例提供的技术方案如下：本发明较佳实施例...
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