技术编号：11627116
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于光学测量技术领域，具体涉及一种基于低相干LED显微条纹投影的微小三维形貌测量系统及方法。背景技术随着科学技术的发展和工业制造水平的不断提高，人们对产品加工及测量提出了新的要求，传统的测量方法已经很难满足现代测量的需求。在众多测量方法中，光学测量法具有着高精度、快速、无损伤等优点已经被广泛应用工业检测、虚拟现实等各行各业。在光学测量方法中，基于条纹投影的测量方法因其具有非接触、全场、高精度等优点而被广泛应用。现有的基于条纹投影的测量方法是由DLP投影仪产生数字条纹，然后投射到被测物体表面...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。