技术编号:11629497
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。源-检测器布置结构技术领域本发明涉及差分相位-衬度成像,包括暗场成像。具体而言,本发明涉及用于光栅型相位衬度计算机断层扫描的X射线设备的源-检测器布置结构,和包括源-检测器布置结构的用于光栅型相位衬度计算机断层扫描的X射线设备。此外,本发明涉及一种使用用于光栅型相位衬度计算机断层扫描的X射线设备的源-检测器布置结构生成并且检测X射线束的方法,和一种使用用于光栅型相位衬度计算机断层扫描的X射线设备生成对象的图像的方法以及一种控制用于生成对象的图像的X射线设备的计算机程序产品。背景技术当获取X射线图...
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