技术编号:11634373
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本公开涉及对经受压力的特定量的样品实施光吸收测量的装置和方法,包括但不限于在两个不同的光路径长度下对微量样品实施分光测定或光度测量。背景技术US6,628,382B2公开了用于在样品上实施光谱光度测量的方法和装置,所述样品被拉成两个平行的相对表面之间的测量柱。样品滴通过表面张力被保持在这两个相对表面之间。两个表面中的一个能够朝着和远离另一表面可控地移动。每个表面均包括与表面同轴且垂直于表面安装的光纤。每个光纤均通过其表面并与该表面平齐地完成安装,以便提供并传输激发能通过样品滴,从而进行测量。US...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。