技术编号：11654119
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及信息电子芯片设计领域，尤其涉及一种基于扫描链的芯片分析方法。背景技术在嵌入式产品研发过程中，软件设计和调试是研发中的一个重要环节。任何软件在定版前都需要经过多次的调试，为了提升设计效率，很多芯片设计公司都同步设计了软件的调试工具。各类调试工具的基本上都是类似与通过JTAG(是一种国际标准测试协议，主要用于芯片内部测试)端口进行与CPU直接进行通信和控制，控制程序的执行。例如单步调试，这类调试的一个前提是CPU本身是工作正常的，如果CPU本身出现问题或异常则各类软件或CPU的状态也就丢失...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
请注意，此类技术没有源代码，用于学习研究技术思路。