技术编号:11665925
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及半导体器件领域,特别地,涉及一种半导体X线探测器。背景技术X线探测器在当今社会生产和生活领域都有着广泛的应用。常见的X线探测器根据其探测成像原理,有以下几种形式:胶片成像,固体探测器,气体探测器,以及半导体探测器。其中,半导体探测器因其体积小、速度快、信息处理便捷、设计方案灵活,在业界得到了广泛的应用,成为了未来X线探测器市场的主流。半导体探测器包括了硅基像素探测器,CCD/CMOS探测器,a-SiFPD探测器等若干形式。其中,硅基像素探测器的空间分辨率高,响应速度快,因而得到了研究人...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。