技术编号：11689970
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及的是一种基于辐射温度计的源尺寸效应抑制装置，属于辐射测温技术领域。背景技术辐射测温方法具有非接触、快响应和使用方便的特点。目前各种辐射温度计已得到广泛使用，对这些红外测温仪器和设备的校准是非常重要的。现有的辐射温度量传体系为标准钨带灯——标准辐射温度计——工作用黑体辐射源——工作用辐射温度计。标准辐射温度计作为量传体系中的重要组成部分，受到了世界各国计量院和科研机构的广泛关注。在标准辐射温度计的研制过程中，抑制源尺寸效应是需要重点关注的部分。当测量或比较两个尺寸不同但温度相同的黑体时，...
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