技术编号：11706431
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本文涉及但不限于OLED显示技术，尤指一种面板测试装置。背景技术在LCD及OLED的生产过程中，经过切割后的面板需要进行测试Test，为了达到对不良的准确检出，需要用到全触点检测FullContact检测，全触点检测是将测试块Block中的每个测试针Pin与面板Panel电极Pad中的信号针Pin一一对应；由于目前面板的分辨率越来越高，比如55”OLED的数据信号输入侧Source侧有15360(3840*4)根金属线，对测试块Block与面板Panel电极Pad中信号针Pin一一对应的准确度要...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。