技术编号：11706447
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于射频微波测试技术领域，具体涉及一种分频段负载牵引测试方法。背景技术射频微波晶体管的负载牵引测试数据常用来设计功率放大器电路或验证晶体管非线性模型的准确性。所谓负载牵引是指，通过机械式或电子式的阻抗调谐器，调谐晶体管的输入输出阻抗，得到晶体管性能，如功率增益、输出功率、效率等，随输入输出阻抗点的变化关系，从而找到晶体管性能最佳的阻抗点。在通信系统应用中，对放大器的效率要求很高，在进行高效率功率放大器设计时，常采用开关类放大器工作模式，比如F类、J类等，这类型放大器的工作原理是通过对晶体管...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。