技术编号:11709039
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及半导体电路领域,特别涉及一种电熔丝位单元阵列中电熔丝的缺陷检测方法及电路。背景技术电熔丝(eFuse)是一种一次性编程器件(OneTimeProgram,简称OTP),可以通过烧写存储数据。随着电熔丝的理论与技术的逐渐成熟,电熔丝的应用范围迅速扩大。电熔丝IP核(IntellectualPropertyCore,知识产权核)包含有电熔丝位单元阵列,所述电熔丝阵列包含有多个电熔丝位单元,所述电熔丝位单元包括所述电熔丝。在电熔丝的实际使用中,电熔丝的制造过程可能出现缺陷,会使电熔丝的初始阻...
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