技术编号:11726599
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本公开涉及精确计量学,并且更特别地涉及用于坐标测量机的探针的感测配置。背景技术坐标测量机(CMM)可以获得被测工件的测量值。在美国专利No.8,438,746中描述了一个示例性现有技术CMM,其全部内容通过引用并入本文,所述CMM包括于测量工件的探针、用于移动探针的移动机构、以及用于控制移动的控制器。在美国专利No.7,652,275中描述了包括表面扫描探针的CMM,其全部内容通过引用并入本文。如其中所公开的,机械接触探针或光学探针可以扫描工件表面。在美国专利No.6,971,183(’183专...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。