技术编号:11727801
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于高功率微波测量技术领域,具体地说涉及一种微波辐射场参数自动测试系统及测试方法。背景技术在高功率微波及其相关技术研究的过程中,微波辐射参数测试系统用于外场静态测量微波电子防御系统的辐射频率、脉冲宽度、脉冲重复频率、等效辐射峰值功率、电场强度、峰值功率密度等辐射参数,用于测试大功率雷达信号和干扰机。为防止大功率信号直接进入接收测试系统烧毁接收设备,需要在接收设备前端接入衰减器(固定衰减器或程控衰减器),一般的通用雷达和干扰机都属于窄带范畴。信号接收处理的过程是:微波天线接收到的低频窄带、高...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。