技术编号：11759693
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及电子元器件测试领域，尤其涉及一种用于电子元器件测试的单尾回形探针及具有该单尾回形探针的测试夹具。背景技术电子元器件在制造完成后需对其进行结构及电气功能的测试，以保证电子元器件符合系统的需求。在对电子元器件进行测试的装置中，需要利用探针来达成待测试电子元器件与电路板的电性连接，因此，探针的性能对测试效能将产生直接影响。现有的最典型的探针为弹簧针1，如图1所示，其具有针体11、设于针体11内的弹簧12及设于针体11两端的针头13，针头13外具有镀层14。这种弹簧针1的针头13以及针头1...
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