技术编号:11822245
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及电子技术领域,特别涉及一种静态测角标校装置。背景技术随着科学技术的不断发展,光电探测设备逐渐在军事和国民经济的各个领域中得到了广泛的应用,如,工业自动控制、光度计量、导弹制导、红外遥感等。测角精度是光电探测设备的一项重要指标,在雷达系统中,光电探测设备的测角精度直接关系到目标探测精度和火控引导准确性。根据其工作状态分为静态误差和动态误差,通常在设备的总误差中,静态误差占据主要部分,因而需要在设备测试中进行标校并在系统中加以补偿。静态测角标校装置用于标定、检验光电探测设备的静态测角精度。...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。