技术编号:11822339
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种指定目标的空间姿态参数测量方法及其应用,属于空间物体的位姿测量技术领域。背景技术现有的基于视觉的目标空间姿态检测方法中,大多需要预先利用其它技术手段获取一项或者几项目标位姿参数,在此基础上再利用视觉检测获得其它参数。例如,预先知道摄像机到目标平面的高度,或摄像机平面与目标平面之间的夹角等,但这些限制条件大大缩小了测量方法的使用范围。尤其是需要多台摄像机协同工作时,庞大的数据量和较小的拍摄范围则会限制此类技术的推广。发明内容本发明所要解决的技术问题在于针对现有技术的不足,提供一种指定...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。