技术编号:11824943
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及电子元器件噪声测试技术领域,具体涉及一种钽电容器噪声测试系统。背景技术电子元器件低频噪声测试及分析对元器件的可靠性和寿命评估具有非常重要的意义。尤其是MIS结构的电子元件,通过分析它的低频噪声频谱特点可判断其氧化膜质量水平,继而对器件的可靠性进行评估,对寿命做出预测。固体电解质钽电容器属于MIS结构的电子元器件,同时还具有高可靠性、长寿命的特点。通过低频噪声的测试和分析可对钽电容器的可靠性进行判断,剔除可靠性较低的钽电容器,这对于高可靠性要求的电路应用具有重大意义。传统的噪声测试系统价...
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