技术编号:11859237
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及光学检测,特别是一种用于大口径光学元件性能检测的三维平台。背景技术现有的光学检测平台,一般由支撑框架;支撑框架底部的底座;在支撑框架底部固定设置的光学检测主机以及光学检测主机上方设置的光学检测件。能够对位于支撑框架上的时间的空间位置进行精确、方便调节的功能。但是检测空间有限,无法安装各种类型的光电探测器,无法实现多种检测手段于一个平台,更不能在检测过程中保持平台的稳定性。平台的用途单一,无法对大尺寸样品进行检测。三维平台采用了双柱式龙门结构的整体布局,(在什么地方安装)可以安装各种类型...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。