技术编号：11861471
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于微波技术、电磁兼容领域，具体涉及一种平面电路测试空间电磁辐射干扰方法背景技术电磁兼容技术在工业、科学和医学(IMS)研究中的应用日益广泛,应用领域不断扩大。特别是在具有连续波、大功率、长时间工作的微波源的情况下，此时微波空间泄漏辐射将对控制电路产生致命影响。据相关文献分析线缆耦合是空间辐射对电路元件造成伤害的主要途径，因此为确保电子产品的长期有效工作，有必要对空间电磁辐射干扰进行测试。空间电磁辐射干扰测试主要运用标准天线法、场强仪(电流探头)法等，其中标准天线法主要应用于设备外部电磁辐...
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