技术编号:11861861
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及磁场测量装置,尤其是一种基于光纤光栅的磁场强度测量装置。背景技术磁场测量方法有很多,如磁通门法、磁光泵法、超导量子器件干涉法等。采用这些方法的测量仪器基本都是由电子器件组成,造成测量仪器抗电磁干扰和耐高温能力差,无法在恶劣的环境下工作,极大地限制了应用范围。具体而言,电子线路耐高温性能差,在温度150℃环境下使用时,测量仪器的工作时间都需要严格限制,无法长时间测量,不能满足高温长时间测量要求。其次,在电磁干扰严重的环境下测量信号容易受到干扰,测量误差大,导致所采集的信息可靠性和准确性无...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。