技术编号:11910470
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及光学投影三维测量系统领域,具体是一种基于数字微镜的高反光表面三维测量装置及方法。背景技术表面为高亮的物体广泛存在于工业制造中,如发动机叶片,抛光磨具以及汽车工业等,而且这些工件在生产和制造过程中,也迫切需要进行快速、准确的测量,确保产品的质量。现有的高精度表面测量主要以接触式测量为主,例如三坐标测量机等方式,测量速度和效率较低。结构光三维测量技术具有扫描速度快,非接触以及点云密集等优点,被广泛用于逆向工程等应用中。现有的结构光三维扫描技术多适用于扫描和重构具有漫反射表面的物体。当扫描具...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。