技术编号：11911607
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于光纤传感技术,具体涉及一种单模光纤双折射测量的方法。背景技术光纤双折射是光纤的一个重要特性参数，它决定光纤的一些偏振特性，如偏振模色散、偏振态控制以及非线性偏振旋转等效应，从而影响光纤器件以及光纤通信的性能，因此对光纤双折射效应的研究和测量在光纤通信、光纤传感以及光器件制作等领域具有重要的意义。人们已经提出多种测量光纤双折射的方法，例如基于干涉技术来测量光纤模式双折射，但该类方法需要复杂的信号解调设备；还有基于手动旋转偏振片来测量光纤偏振态的变化，但该方法需要手动操作，测量不方便；此外...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。