技术编号：11916685
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种用于定位试样中的点状样本的光学显微方法，按照该方法，借助成像镜头使得设置在样本空间中的试样成像到探测器上，该成像镜头在样本空间中沿着其光轴具有预定轴向延展距离的清晰深度区域，在清晰深度区域内对在试样中含有的点状样本定位，其方式为，对因试样成像到探测器上而产生的第一试样图像加以分析，其中，为了在光轴方向上定位相应的点状样本，求取第一试样图像的表示点状样本的光斑的特征参数，并根据预定的指配信息给该特征参数指配涉及点状样本的轴向位置。背景技术近来研发出了光学显微成像法，采用这种方法可...
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