技术编号:11918111
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明是有关于一种芯片调试系统及方法与系统芯片,且特别是有关于一种可保留调试信息的芯片调试系统及方法与系统芯片。背景技术随着各式电子产品的蓬勃发展,在电子产品中的系统芯片的研发与制造的过程中,开发人员必须对所设计或制造出的系统芯片花费更大量的时间与人力,来进行系统芯片的侦错以及除错。因此,发展出在系统芯片内建立量测线路,并由少数的测试引脚以及串列传输的方式来取代探针检测。而目前此种架构已被定工业标准,并且称之为JTAG(JointTestActionGroup)。目前大部分的系统芯片都提供JTA...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。