技术编号：11920032
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于电子系统故障诊断技术领域，更为具体地讲，涉及一种基于多目标遗传规划算法的序贯测试优化方法。背景技术在电子系统故障诊断技术中，序贯测试问题被定义为一个五元组问题(S,P,T,C,D)。其中，S＝{s0,s1,s2,…,sM}表示系统故障状态的有限集，其中s0表示系统没有故障发生的状态，s1到sM表示系统发生不同故障的状态。P＝{p0,p1,p2,…,pM}是各个系统状态发生的先验故障概率向量。假设系统只能处于某个故障状态或无故障状态，需要对先验故障概率向量P进行归一化。T＝{t1,t2,...
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