技术编号:11925666
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种半导体光电器件,尤其涉及一种具有吸收增强结构的II类超晶格光电探测器及其制备方法。背景技术随着科学技术的进步,各个领域对光电探测器的需求越来越大,如战略预警、夜视等恶劣环境下的目标识别、制导、辅助医疗、气象监测、环境监测和地球资源探测等。目前应用最广泛的HgCdTe等探测器仍有着成本高、均匀性差等缺点,使得新一代光电探测器的研发迫在眉睫。II类超晶格探测器由于其材料的特性,光吸收系数可与HgCdTe相比拟;其0.61nm的材料体系可带来充足的设计自由度,带隙可以通过调节每个周期的I...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。